• MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪

    详细信息

     品牌:德国EPK  加工定制:否  型号:MiniTest1100/2100/3100  
     类型:涂层  测量范围:0-50 mm 显示方式:数显  
     电源电压:1 V   
    • MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪
    • 型   号: MiniTest1100/2100/3100/4100
    • 产   地: 德国
    • 制 造 商: 德国EPK
    • 应用范围: 测量磁性基体上的非磁性涂层; 测量非磁性基体上的绝缘涂层

    产品详情

    产品特点
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
    所有型号均可配所有探头;
    可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
    可使用一片或二片标准箔校准。
    产品功能
    型号 1100 2100 3100 4100
    MINITEST 存储的数据量
    应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 1 1 10 99
    每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值) - 1 10 99
    可用各自的日期和时间标识特性的组数 - 1 500 500
    数据总量 1 10000 10000 10000
    MINITEST统计计算功能
    读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar -
    读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
    组统计值六种x,s,n,max,min,kvar - -
    组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
    存储显示每一个应用行下的所有组内数据 - - -
    分组打印以上显示和存储的数据和统计值 - -
    显示并打印测量值、打印的日期和时间 -
    其他功能
    透过涂层进行校准(CTC) -
    在粗糙表面上作平均零校准
    利用计算机进行基础校准
    补偿一个常数(Offset) - -
    外设的读值传输存储功能 -
    保护并锁定校准设置
    更换电池是存储数值
    设置极限值 - -
    公英制转换
    连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别*大*小值 - -
    连续测量模式中测量稳定后显示读数 - -
    浮点和定点方式数据传送
    组内单值延迟显示 -
    连续测量模式中显示zui小值        

    可选探头参数
    所有探头都可配合任一主机使用。在选择***适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
    F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
    N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
    FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
    探头 量程 低端
    分辨率
    误差 zui小曲率
    半径(凸/凹)
    zui小测量
    区域直径
    *zui基
    体厚度
    探头尺寸



    F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
    F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
    F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
    F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
    F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
    F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
    F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm

    FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm
    FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm
    N50μm
    φ21x89mm
    FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm
    N50μm
    φ15x62mm



    N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
    N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
    N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
    N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
    N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
    N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
    N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
    CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 无限制 φ17x80mm

    注:        
    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
    N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
    CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
     
     
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